论是实验室环境还是生产车间，都需要采用更的半导体测试方法。半导体测试是NI的战略重点。我们正在扩展我们的软件和PXI功能，以帮助芯片商应对他们面临的挑战，这一点通过NI的PXISMU可以*体现出来。"由于其高吞吐量、高性价比和占地面积小，NI的半导体测试系统(STS)正在快速应用到芯片生产中。全新的PXIe-4163SMU则进一步增强了这些功能，它能更高的直流通道密度，使多站点应用具有更高的并行性，以及在生产中实验室级别的测量质量。相比一代产品，二代产品外形几乎没有变化，但功能更加强大；其中Baby-LIN-RM-II可以支持高速CAN和低速CAN；Baby-LIN-MB-II也可以支持CAN总线；式的测试设备HARP-5可同时支持CAN，LIN，并带有显示屏，具有数据记录仪的功能。下图是一个简单对比：Baby-LIN-II系列产品都配有免费的LINWorks软件，在PC上支持所有工作流程，可以在WIN )上操作。